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測試探針內(nèi)部阻值的研究
點(diǎn)擊次數(shù):0 更新時(shí)間:2016-11-07 00:00:00
探針保持低而穩(wěn)定的電阻值對(duì)彈簧探針的設(shè)計(jì)至關(guān)重要。彈簧探針?biāo)辛慵脑O(shè)計(jì)都對(duì)阻值有很大的影響。零件的外形、基材、電鍍、表面粗糙度、彈簧彈力等等都會(huì)影響接觸電阻。金屬材料的阻值容易計(jì)算。然而,計(jì)算出金屬與金屬之間,精確的接觸電阻會(huì)比較困難。通常在彈簧探針中,會(huì)有三個(gè)以上的接觸點(diǎn)。(芯片觸點(diǎn)和上測試針頭之測試針頭和套管之間,以及下測試針頭和電路板觸點(diǎn)之間,
我們可以測量彈簧探針的阻值,也可以只測量上測試針端和下測試針端之間的整體阻值。整體的阻值會(huì)涵蓋所有的內(nèi)部接觸電阻。